УСПЕХИ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ®
НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ
| 2019, том 7, № 5 |
Основан в 2013 г. |
Москва |
СОДЕРЖАНИЕ
ОБЩАЯ ФИЗИКА
|
Славкин В. В., Журин С. А.
Пиннинг магнитного потока и линия необратимости кристаллов YBa2Cu3O7-x с
внедренными нейтральными примесями
| | 439 |
ФИЗИКА ПЛАЗМЫ И ПЛАЗМЕННЫЕ МЕТОДЫ
|
Давыдов С. Г., Долгов А. Н., Карпов М. А., Корнеев А. В., Никишин Д. В., Пшеничный А. А., Якубов Р. Х.
Пространственная структура и динамика импульсного дугового разряда в вакууме
| | 454 |
Тажен А. Б., Райымханов Ж. Р., Досболаев М. К., Рамазанов Т. С.
Получение и диагностика импульсных плазменных потоков
| | 463 |
ФОТОЭЛЕКТРОНИКА
|
Арич О. Д., Климанов Е. А., Гончаров В. Е., Можаева М. О., Малыгин В. А.
Исследование дефектов матричных фотоприемных устройств методами электронной микроскопии
| | 472 |
ФИЗИЧЕСКОЕ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
|
Гавриш С. В., Логинов В. В., Пугачев Д. Ю., Пучнина С. В.
Вакуумноплотные спаи сапфира с металлами (обзор)
| | 480 |
Валянский С. И., Кононов В. М., Кононов М. А.
Шероховатость, пористость и показатель преломления тонких плёнок AgI
| | 502 |
ФИЗИЧЕСКАЯ АППАРАТУРА И ЕЁ ЭЛЕМЕНТЫ
|
Андосов А. И., Полесский А. В., Романова Т. Н., Юдовская А. Д., Тришенков М. А.
Методика измерения пятна рассеяния объектива с использованием матричного
фотоприемного устройства
| | 508 |
Молчанов C. Ю., Ушаков Н. М., Литвиненко А. Н.
Измерение диэлектрической проницаемости композитных наноматериалов с использованием микрополоскового
встречно-штыревого резонатора в сантиметровом диапазоне радиоволн
| | 519 |
Содержание других выпусков журнала
|